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涂层测厚仪测量误差都有哪些,赶紧来看看!
发布时间:2019-09-17   点击次数:80次
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。用户可以根据测量的需要选用不同的涂层测厚仪磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米这类仪器又分探头与主机一体型探头与主机分离型前者操作便捷后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金,银等金属的厚度。  
影响涂层测厚仪监测的误差有哪些呢?  
a基体金属厚度  
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。  
b基体金属电性质  
基体金属的电导率对测量有影响而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。  
c边缘效应  
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。  
d基体金属磁性质  
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)为了避免热处理和冷加工因素的影响应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。  
e曲率  
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。  
f试件的变形  
测头会使软覆盖层试件变形因此在这些试件上测出可靠的数据。  
g表面粗糙度  
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差每次测量时在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后再校对仪器的零点。  
h磁场  
周围各种电气设备所产生的强磁场会严重地干扰磁性法测厚工作。  
i附着物质  
涂层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此必须清除附着物质以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。  
j测头压力  
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数因此,要保持压力恒定。  
k测头的取向  
测头的放置方式对测量有影响。在测量中应当使测头与试样表面保持垂直。  
这就是影响涂层测厚仪的一些因素。

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